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  • XT V160尼康 X-TEK xray检测设备
    XT V160尼康 X-TEK xray检测设备

    尼康 X-TEK xray检测设备 XT V 160系统范围具有亚微米特征识别功能，可满足当今对复杂电子元件进行高性能、无损检测的需要。尼康Xi Nanotech X射线源与平板探测器相配，可产生清晰的图像质量，并在2D和3D检测之间实现无缝转换。这些系统能够直观地使用和利用业界的软件，最大限度地提高所有操作员的生产效率，同时减少培训需求。

    更新时间：2023-01-12型号：XT V160浏览量：779
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